掃描穿遂顯微鏡(STM：Scanning Tunneling Microscopy)

使用矽晶圓或納米碳管(CNT)制作成針尖小于100nm(納米)的納米尖端，當納米尖端由“金屬固體”表面掃過時，
尖端接觸“金屬”表面會導電，利用導電的大小來控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動，可以量測“金屬固體”(良導體)表面。

將尖端上下移動情形記錄下來，并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對應的三維圖形。

掃描穿遂顯微鏡(STM)的解析度與納米尖端的尺寸有關，可以用來觀察大約1nm(納米)的結構，因此可以看到由電腦模擬的原子影像。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)